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[sort:subname] {/pboot:sort}高精度全自動影像測量儀-LA系列
LA系列搭載1:13高分辨率自動同軸光光學系統,集非接觸式影像、激光和接觸式探針檢測功能於一體,可全面確保精密工件加工工藝的二維尺寸、高度尺寸、空間尺寸準確性,根據不同產品的工藝需求搭配不同的軟硬件可滿足3C行業、液晶行業、醫療行業、半導體行業等上下遊工藝中的不同生產需求,提高生產效率。
適用行業:半導體封裝
1、IC封裝
2、LED封裝
3、光電子器件封裝
4、汽車電子
5、航空航天
6、光通訊
7、研究所及大專院校
強有力的LED環形照明
標準倍率光學變焦頭配有雙層8方向LED環形照明,內環固定不動,外環可升降,與普通照明相比,它可以讓您看清更多的邊界。
配備高精度、高倍率的精密光學設計
采用1:13物方遠心同軸光鏡筒,優良的消畸變設計,充分保證視窗內各處尺寸測量的準確性,物方分辨率達1um以下,支持2/3靶面相機,相同倍率可得到更大視野,檢測效率提升90%以上。全新結構設計和工藝優化,鏡頭使用壽命提升到200%,同等光學測量設備上面,放大倍率提高100%,實現任意產品的輕松測量。
全新高精度設計,空間測量高度300mm
采用全花崗石結構,固定橋式,移動工作臺結構,精密滾珠絲桿,中央直線電機驅動有效減少阿貝誤差情況下提升了設備的高速性、靜音性、平穩性、實現高精度測量。
多樣化傳感器
可搭配觸發式接觸測頭,對影像無法完成無法識別的三維特征進行單點觸發,共聚焦白光,對柔軟、反射或低對比度的表面進行亞微米精度級別的測量。
功能強大的INSPEC測量軟件
INSPEC是科唯儀器專門為影像測量儀用戶打造的復合測量軟件。它秉承了計量軟件INSPEC的核心技術,具備直觀的操作界面和智能化的特征自動識別功能,脫機編程操作,使得該款軟件簡單易學,高效實用。
輔助影像測量儀完成一些特殊尺寸的測量,包括:
● 測量高度:利用測量頭可以測量高度的特性來測量工件表面的高度差
● 測量球體、柱體:利用測量頭的多方向點接觸可測量到影像捕捉不到的位置
● 測量平面度:利用測量頭可以測量高度和測量速度快的特性來實現工件表面平面度的測量
激光傳感器在被測工件表面上投射一個可見光斑,由工件表面反射激光信號到傳感器上。當傳感器與被測工件間的距離發生變化時,激光反射角度產生相應變化,使傳感器內感光元件上的成像位置產生相應變化。
在操作影像測量儀時,可使用激光測頭執行高度測量、快速對焦以及工件平面度的測量,亦可編輯程序執行自動測量。其主要功能是輔助影像測量儀完成特殊尺寸的測量。
接觸式探針
零件側面的孔洞或是溝槽等,以接觸式探針測量
激光測量系統
零件的平面度、厚度、輪廓度
规格参数:
型號 | LA300 | LA400 | LA500 |
測量範圍(mm) | 300*300*300 | 400*400*300 | 500*500*300 |
XY軸精度(μm) | 1.6+L/200 | 1.8+L/200 | 2.0+L/200 |
Z軸精度(μm) | 3.5+L/200 | 3.5+L/200 | 3.5+L/200 |
XY矢量精度(μm) | 2.5+L/200 | 2.8+L/200 | 3.0+L/200 |
承載重量 | 25kg | 30kg | |
光栅尺分辨率 | 0.1um金屬貼片光柵尺 | ||
XY最大速度 | 500mm/s | ||
XY最大加速度 | 1400mm/s | ||
Z轴最大速度 | 30mm/s | ||
光学变焦 | 0.6-8x自動變倍同軸光鏡筒(1: 13) 44x-588x | ||
照明光源 | 可程控調節:LED同軸反射光/LED四環八區反射光源/光源球積分平行光路透射光源/升降光源 | ||
擴展升級(選配) | 激光傳感器/3D探針系統 |